1. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : /TerryL.Alford,Leonard C.Feldman,James W.Mayer,آلفورد,Alford
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)
موضوع : لایههای نازک,مواد نانو ساختار
رده :
QC
۱۷۶
/
۸۳
/
آ
۷
ف
۲ ۱۳۸۶